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高温阻断 测试设备 DBC-249
系统概述：本测试设备可对晶闸管、整流管的电耐久性进行试验，测试设备主要技术条件符合JB/T-7626-2013等相关标准。保证设备的安全性和使用耐久性。测试的电压和电流波形同时被采集到示波器，并由示波器与工控机直接
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2024-11-01 |
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ZY-200 雪崩能量 测试仪器
系统概述：是专门设计测试IGBT、二极管、MOS管测试设备，该设备主要组成单元有：示波器、程控电源、程控电感、电流传感器、电压传感器、雪崩保护电压控制、IGBT功率型器件、IGBT功率型器件保护电路、计算机程控系统
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2024-11-01 |
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ZY-1500R IGBT 静态参数测试系统
系统概述：针对IGBT的静态参数而研发的智能测试系统，功率3500V、1500A（可扩展），自动化程度高，按照操作人员设定的程序自动工作。计算机记录测试结果，测试结果可转化为文本或EXCEL格式存储，工作时序、开关的动
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2024-11-01 |
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10uS-10mS DBC-102 浪涌电流 测试系统
系统概述：浪涌电流测试仪，是二极管等相关半导体器件测试的重要检测设备，浪涌电流是指电源接通瞬间或是在电路出现异常情况下产生的远大于稳态电流的峰值电流或过载电流。DBC-102型浪涌电流试验台的测试方法符合JB/
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2024-11-01 |
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晶闸管 门极/阻断特性测试仪
系统概述：晶闸管门极/阻断特性测试仪是可用于测量晶闸管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRM\VGT、IGT、 Ih以及二极管的VRRM、IRRM参数以及其它半导体器件的相关参数测试的专业设备。它的测试方法符合GB/JB/T7626-2013标准。
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2024-11-01 |
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功率循环 测试系统
系统概述：该系统是一套动态综合测试系统、测试参数多、精度高、具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点，测试程序由计算机控制，程序设定完成后可自动测试，系统采用内控和外控两种方式。便于工作
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2024-11-01 |
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分立器件 参数测试仪
系统概述：ENJ1502分立器件测试仪采用上位计算机控制，集点测试和曲线扫描为一体，可实现点参数测试和图示仪功能。软件操作界面友好智能，在PC 窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备
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2024-10-22 |
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IGBT 便携式测试仪
系统概述：IGBT作为目前主流的电力半导体开关器件，已广泛应用于电力电子相关行业，一台轻巧便携的测试仪就显得尤为重要。便携式IGBT测试仪，是一种全新的功率半导体器件参数测试仪器，可用于额定电流在2-100A的IGBT
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2024-10-22 |
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